고전압 펄스 통해 시스템이 얼마나 견디는지 테스트할 필요 있어

반도체 디바이스는 전자기 간섭 적합성, 정전기 발전, 과도 펄스, 진동 내구성, 습도, 온도 스트레스 이외에 여러 가지 인증 테스트를 거쳐야 한다. 이런 테스트는 해당 디바이스의 실제 애플리케이션 환경에서 반복적인 시험을 통해서 이루어진다.

반도체 제조사들은 테스트를 통과하기 위해서 디바이스의 어느 부분을 테스트 하는지, 테스트에 어떤 표준이 적용되는지, 어떻게 실시할지, 합격과 불합격의 판정 기준은 무엇인지, 어떤 조건이 적용 되는 지 등 PCB를 수정하고 새롭게 구축하며 계속적인 디버깅으로 인한 시간과 비용 낭비없이 인증 요건을 통과할 수 있어야 한다.

여러 테스트 중 산업용이나 오토모티브와 같은 분야들의 인증 규격에 사용되는 간섭 측정 방식인 과도 펄스 테스트가 있다. 과도 펄스 테스트는 전원, 통신 버스의 고전압 펄스를 통해 디바이스나 시스템이 얼마나 잘 견디고 통신이 동작하는 것을 유지할 수 있는지를 평가한다.

EFT(electrical fast transient) 테스트는 IEC 61000-4-4 표준에서 정의하고 있는 과도 펄스 테스트의 일종이다. 또한, 특정 산업 분야에 따라서 IEC 61000-4-4를 기반으로 한 파생적인 각자의 EFT 표준을 정의하고 있다. 예를 들어 유럽 표준인 55024에서는 유럽 연합에서 사용되는 정보 기술 장비에 대한 요건들을 정의하고 있다.

EFT는 다른 과도 펄스 테스트에 비해서 빠르다. 높은 피크 전압, 빠른 상승 시간, 높은 반복 속도의 펄스 파형을 사용해서 릴레이 접촉기나 모터로부터의 역 EMF(electromotive force) 같은 인덕티브 부하 스위칭으로 발생되는 빠른 고주파 에너지 버스트를 시뮬레이션할 수 있다. 이러한 종류의 펄스는 산업 환경에서 매우 일반적이기 때문에, 디바이스가 올바른 동작을 유지하는지 살펴보기 위해서는 이러한 테스트가 필수적이다.