BEGIN:VCALENDAR
VERSION:2.0
PRODID:-//e4ds.com//webinar//EN
BEGIN:VEVENT
UID:20131210T013000Z31315
SUMMARY:[e4ds webinar] 텍트로닉스 애플리케이션 웹세미나 / 1부: High Speed 신호 전송 및 signal Integrity 관점에서의 DUT TX, RX TEST 환경에 대한 고찰-USB3.0, PCIE3.0/ 2부: 임베디드 시스템 및 고속 시스템 설계 분석을 위한 오실로스코프-MSO/DPO5000B 시리즈
DTSTART:20131210T013000Z
DTEND:20131210T050000Z
DESCRIPTION:/webinar_detail.asp?idx=156
END:VEVENT
END:VCALENDAR