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- 권준식 : 항상 유익한 웨비나 감사합니다, ST의 실리콘 LV MOSFET 적용한 전장용 모터의 경우 동일한 성능 대비 발열/전력소모 등 효율성 관점에서 비교를 하면 어떤 지 궁금합니다
- : 각 회사마다 설계 특성이나 레이아웃 등이 전부 다르기 때문에 1:1로 비교는 어렵습니다. 경쟁사 대비하여 발열이나 효율에서는 거의 대동소이한 경우가 많이있으나 EMI측면에서는 좀더 좋은 특성을 보여주고 있습니다.
- 산업 및 자동차 애플리케이션을 위한 차세대 MOSFET, IGBT & IPM 솔루션 -
- 선한걸 : 발표자료를 살펴보니 웨이퍼 두께가 얇아지는 방향으로 기술이 발전하면서 적용 전압 범위도 낮아지는 경향이 있는 것으로 보여 문의드렸습니다.
- : 같은 전압의 소자를 개발할 때 전계분포를 개선하여 웨이퍼 두께를 얇게 만들고 있습니다. 일반적으로 전압은 epi layer를 키워 증가 시킬 수 있기 때문에 개선된 기술을 사용하여 같은 두께로 소자를 만들면 더 고전압의 소자를 구현할 수 있습니다.
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- 장성원 : 교육해주심에 정말 감사합니다. 1. IC가 등록된 제품같은 경우에는 불러올 수 있으나 없으면 어떻게 불러오는걸까요? 2. 차동통신을 서로 하는 회로를 그리는 방법은 어떻게 그리나요?
- : 1. IC가 기존 라이브러리에 없더라도 그 IC 제작사 홈페이지에 가서 해당 부품을 검색하면 SPICE 모델이 첨부되어 있는 경우가 많습니다. 첨부되어 있지 않은 경우에는 제작사에 요청해 보세요. SPICE 모델이 제공되는 유사한 성능의 호환 제품으로 전환하는 것도 좋을 것 같습니다. 그리고, LTspice는 아날로그 회로 시뮬레이터라는 점에 유의하셔야 합니다. 간단한 게이트나 플립플롭 수준을 넘는 디지털 회로 부분에 대한 시뮬레이션은 제공하지 않습니다. 2. 직병렬 통신회로도 디지털 회로입니다. 따라서, LTspice는 이 부분에 대한 시뮬레이션을 제공하지 않습니다.
- LTspice, 설치만 해두고 못 쓰고 있다면, 지금 이 90분으로 바뀝니다 -
- 이라보 : 스위칭 주기가 짧고 관찰 시간이 긴 회로에서는 계산 시간이 급격히 증가할 수 있는데, 시간 간격과 계산 정밀도를 조정하면서도 중요한 순간의 파형 왜곡을 놓치지 않는 방법은 무엇인가요?
- : 1. Maximum Timestep 크기를 증가시킵니다. Maximum Timestep 값을 빈칸으로 두면 LTspice가 step size를 시뮬레이션을 실행하는 동안 시시각각 알아서 결정합니다. 예를 들어, 신호가 스위칭의 모서리처럼 급격히 변하는 구간에서는 신호의 디테일을 놓치지 않으려고 step size를 줄이고, steady state 처럼 신호 변화가 완만한 구간에서는 step size를 늘입니다. Steady state 구간이 많은 경우에는 Max Timestep을 늘이면 계산시간을 줄이는데 도움이 됩니다. 2. 데이터 파일의 Writing Time과 크기를 관리합니다. - 하드디스크 용량이 충분하다면 명령어 .options plotwinsize=0를 사용하여 데이터 압축(Data Compression)을 해제(disable)합니다. - 필요한 항목만 저장합니다. .options savecurrents=0 전류값은 저장하지 않게 합니다. .save V(out) V(in) I(R1) 저장할 항목을 지정합니다. 3. 등가 직렬 저항 (ESR: Equivalent Series Resistance) 추가 순수 커패시터나 인덕터는 순간적인 전압/전류 변화를 유발하여 time step이 극도로 짧아지면서 계산 속도를 매우 느리게 만들 수 있습니다. 4. 계산 엔진의 Solver를 Normal에서 Alternate로 변경 약간 느리지만 더 정밀하게 계산해서 무한 루프에 빠지지 않게 합니다. (Solver를 Alternate로 변경하는 방법은 질문15의 설명 참조)
- LTspice, 설치만 해두고 못 쓰고 있다면, 지금 이 90분으로 바뀝니다 -
- 이라보 : 프로세서의 전원 변동과 클럭 지터가 동시에 발생하는 경우 어느 현상이 원인이고 어느 현상이 결과인지 판단하기 위한 측정 방법이 궁금합니다.
- : 전원 변동과 클럭 지터를 같은 시간축에서 동시에 잡고, 누가 먼저 변했는지 를 반복 측정으로 확인하는 방식이 가장 효과적입니다. 단순 상관관계가 아니라 시간 선후관계 + 재현성 + 외란 주입 테스트를 같이 보는 것입니다. ① Core Rail + PLL Rail + Clock + RESET 동시 측정 ② Clock의 TIE/Period Jitter를 시간축으로 표시 ③ 전원 이상과 jitter burst 중 어느 것이 먼저 발생하는지 확인 ④ 반복 측정으로 상관성 확인 ⑤ 마지막으로 전원 또는 Clock 한쪽에만 controlled disturbance를 주입해 인과관계 검증 추가적인 답변이 필요하시다면 메일로 관련 어플리케이션과 같이 보내주시기 바랍니다.
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