테스트 비용 절감, 시간 단축, 측정 정확성 제공 예정
웨어러블, IoT 등 저전력 디바이스 특성화 테스트 솔루션

내셔날 인스트루먼트(이하 NI)가 ‘세미콘 코리아 2018’에 참가하여 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

한국NI는 반도체 테스트 비용 절감, 시간 단축, 측정 정확성을 제공하는 솔루션들을 소개할 예정이다. NI의 플랫폼 기반 방식은 특성화에서 양산 테스트에 이르기까지 테스트 전 과정에 걸쳐 고성능과 효율성을 보장하며, 각종 문제점들을 해결하는 확장형 솔루션을 제공한다.

이번 전시회에서 소개하는 PMIC(Power Management IC) 테스트 솔루션은 모바일, 웨어러블, IoT 등의 저전력 디바이스를 위한 특성화 테스트를 제공한다. 이 제품은 NI PXI SMU 기반의 자동화 테스트를 통해 효율을 극대화시킬 수 있다. 또한 NI의 대표적 솔루션인 NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 테스트 환경에서 사용하는 소프트웨어 및 하드웨어 통합 플랫폼이다. 1,500개 이상의 모듈형 계측기를 기반으로 유연한 테스트 솔루션 구축을 지원하며, 개발부터 양산까지 동일한 PXI 플랫폼을 사용하므로 개발 시간을 단축해준다.



또한 4.5G/5G 테스트 솔루션인 PXI 벡터 신호 트랜시버(Vector Signal Transceiver)는 1GHz 대역폭을 가지는 제품으로서, 5 종류의 계측기 기능을 통합하고 있다. 향상된 대역폭, EVM 성능, FPGA을 갖춰 4.5G 및 5G 를 지원하는 RF FEM(Front End Module) 테스트에도 적합하다. 이외에도 장비 운영 시간 극대화를 위한 예지보전과 비용 효율적인 유지보수를 구현하는 반도체 공정 장비 모니터링 솔루션과, 개발과 양산 단계에서 활용 가능한 NFC(Near Field Commnunication) 테스트 솔루션 등을 데모를 통해 확인할 수 있다.

한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 권순묵 대리는 “NI는 비용, 확장성, 설계, 장비의 문제점을 해결해 주는 고성능의 스마트 솔루션을 제공하여 아날로그, 혼합신호, RF 테스트의 강화된 요건을 충족시키고 있다”라고 말하고, “이번 행사를 통해 고객들이 테스트 및 측정 산업의 글로벌 리더인 NI의 최신 반도체 테스트 장비들을 체험하면서 NI의 기술력을 직접 확인하고 폭넓게 활용할 수 있기를 바란다”고 밝혔다.