PXI, 테스트 관리 SW, LabVIEW 프로그래밍까지 일체형 헤드로 구성

지난 1월 31일부터 2월 2일까지 열린 '세미콘코리아 2018'에 참가한 내쇼날인스트루먼트(NI)는 반도체 테스트 시스템(STS, Semiconductor Test System)을 선보였다.

STS는 바로 양산 환경에서 사용할 수 있는 시스템으로 일체형 테스트 헤드에는 PXI 플랫폼, TestStand 테스트 관리 소프트웨어, LabVIEW 그래픽 프로그래밍이 연결되어 있다. 헤드에 내장된 테스터 설계에는 시스템 컨트롤러, DC, AC, RF 계측, DUT 인터페이싱, 장비 행들러/프로버 도킹 기계 장치 등 생산 테스터의 주요 구성요소가 모두 포함되어 있다.

STS 시리즈는 T1, T2, T4 세가지로 테스트 시스템 사이즈에 따라 18 슬롯 PXI 섀시를 각각 1개, 2개, 4개 탑재할 수 있다. 모든 테스트 시스템은 공통의 인터페이싱 인프라를 지원하기 떄문에 정확한 핀 카운트와 사이트 카운트 요구사항을 충족시키기 위해 시스템을 확장하거나 특성화를 위해 시스템 축소도 가능하다.