박*만 : 고속인터페이스 측정에서 왜곡율 이런것도 측정 가능 할까요?
tektronix1 : 네, 의미는 다를수 있는데, 왜곡율이라하면, 지터, 노이즈등의 측정이 가능하다고 봅니다.
이*석 : 고속통신인터페이스의 설계시 측정관련하여 고려되어야 할 부분이 있나요 PCIE 같은 경우 Device to Device 설계시 측정이 어려울 꺼 같아서요
tektronix1 : 네, 고속시리얼 개발시에는 각 spec에 맞게 ch 에 대한 loss, jitter 를 확인 후 설계하여야 최종 양산 제품에서 정상적인 성능을 낼수 있습니다. 고속 인터페이스에서 PCIE 의 spec 들을 확인해보시면, ch 가 요구 되어지는 loss 등의 spec 명기되어 있고, 이는 고속 신호전송시 Eye, Jitter 검증과 성능에 매우 중요한 요소입니다.
장*형 : TNC 케이블에서 가드 사용하지 않을시 가드와 그라운드 모두 그라운드로 사용하면 쉴드가 두겹으로 되어 노이즈레벨이 줄어드나요? 가드를 그냥 플로팅 해두는것이 좋은가요?
tektronix2 : Triax 케이블의 가드를 공통 그라운드로 두는 것은 권장하지 않습니다. 가드는 필요한 경우에 설비안 쉴드박스 등 연결하며, 이외에는 플로팅으로 둡니다.
이*영 : SMU를 사용할때 voltage를 이용해서 current를 측정할려면 Sense Hi 와 Sense Lo 를 연결해서 사용해야하나요?
tektronix2 : Sense HI Sense LO는 4단자 측정방법을 이용할때 사용합니다. 전압 전류 기본측정에는 force hi force lo만 이용하면 됩니다
강*성 : 100V 전원 Line FET Vds를 측정한다 하였을때 Passive probe와 Different probe를 사용했을때 Power noise에 영향도가 작은 측정 방법은 어느쪽일까요? (둘다 영향도를 배제 할 수 없나요?)
tektronix1 : 측정 포인트에 common mode noise가 있다면 Differential probe가 common mode noise 제거 측면에서 유리 합니다.
최*국 : Trigger 조건을 버스와 출력 조건 을 같이 정의할수 있나요? 예) add 50 과 data 00H 일때..
tektronix1 : Address와 Data를 값을 동시에 지정해서 Trigger 조건을 줄 수 있습니다.
김* : 특정 시리얼 프로토콜 패킷을 트리거로 사용 가능 한가요!
tektronix3 : 안녕하세요. 2sereis MSO는 I2C, SPI, UART, CAN, LIN, SENT 시리얼 버스를 디코딩하고 트리거링 가능합니다.
김*종 : 4CH 을 모두 사용해도 2.5G 샘플 가능한가요?
tektronix3 : 안녕하세요. 체널 전체를 사용시 1.25Gsample/sec 를 지원하며, 절반 채널 사용시 2.5Gsample/sec를 지원합니다.
김*열 : [질문] 측정 오차 보정을 위한 자체 기능은?
tektronix2 : 소스미터 등의 계측기에는 NPLC(Number of PowerLine Cycle)과 Auto zero 기능이 있습니다.
이*진 : 일반적인 전원 측정과 배터리 전원 측정시 장비나 방법에 있어서 다른 점이 특별히 있는지요? 저는 (그동안 전원 소스에 대한 구분없이 그냥 전원 레벨이나 전류만 보고 구분없이 측정해왔었습니다..)
tektronix2 : 완성된 셀 수준이라면, 전압 레벨에 따른 방전테스트를 진행하실 것으로 예상됩니다. 오늘 웨비나 내용 중에 셀 사이클링 테스트에 대한 내용이 있습니다. 더 자세한 문의는 저희 메일로 전달부탁드립니다.
임*수 : Automated pass/fail mask testing에서, 하나의 보드에서 automated mask를 취득한 다음에 그 mask를 다른 보드에 적용해서 pass/fail여부를 판단할 수도 있을까요?
tektronix1 : 가능 합니다. mask는 따로 저장하고 불러올 수도 있습니다.
이*엽 : 소개해 주시는 스코프에서 측정 가능한 minimum sensitivity에 대해 어떻게 판단하면 좋을까요? 예를 들면 1GHz 이상의 신호에 대해서 측정한다고 했을 때, 허용 가능한 Voltage Level을 2^12 (ADC 12bit resolution 고려)으로 나눈 값으로 생각하면 될까요?
tektronix1 : 말씀하신 것처럼 12bit일때 전체 측정되는 화면의 수직축의 2^12의 분해능을 갖고, High resolution 기능을 통해서 최대 16bit 까지도 가능 합니다.
강*순 : 텍트로닉스 usb4.0 솔루션이 실제 usb4 사양 적합성 테스트를 전부 준수 한다고 보면 될까요?
tektronix1 : 네 , 최신 사양을 모두 적용한 compliance 측정에서 항목을 지원 하고 , 잠시후 자세한 compliance 항목 측정에 대한 자세한 설명과 데모가 이어집니다.
채*기 : 일반 3.0 usb 케이블을 사용할 수 있나요.?
tektronix1 : cable 의 pin 은 동일합니다만, spec 적인 부분에서는 다릅니다. 사용의 측면에서는 USB4 의 성능을 정확하게 구현 하기 위해서는 스팩에 규정한 USB4 cable 을 사용하여야 하면, 특히 측정 (compliance test) 에서는 반드시 USB4 의 규격 cable 을 사용 해야합니다.
박*상 : Keithley 4200A-SCS 반도체 파라미터 분석기의 주요 특징이 궁금합니다.
tektronix2 : 키 컨셉은 이 장비는반도체 소자를 측정하는 장비로 단 하나의 메인프레임에서 사용자의 측정 컨셉에 따라 DC I-V, AC, Pulse의 인가 및 측정이 가능하다는 점입니다. 그외 주요 스펙은 발표자료 혹은 데이터시트를 참고 부탁드릴게요!
권*안 : pulsed IV 측정시 펄스 duty cycle 과 펄스 주파수는 어떻게 되는지요?
tektronix1 : 최대 DUTY CYCLE 은 측정 포인트에 따라 다릅니다. PMU는 버퍼(메모리)의 영향을 받기 때문입니다. 레인지 설정에 따라 다르나 최대 펄스 주파수는 50MHz 입니다.
정*화 : 왜 항시 16bit로 측정 안하고 High Res옵션으로 측정하는 이유는요?
Tektronix3 : 하드웨어적으로 ADC가 12bit 이기 때문입니다. 오실로스코프에는 수십기가의 속도로 샘플링 하기 때문에 ADC의 bit가 높아 지지 어렵습니다.
정*진 : [질문] 오실로스코프 장비가 시중에 다양한 제품이 출시되어 있는데요, 오실로스코프 장비 선택 시 중요하게 고려해야 하는 부분이 무엇인지? 궁금합니다.
Tektronix3 : 기본적으로는 측정하시는 신호를 정확하게 보기 위해서 대역폭을 우선 고려 해야 합니다. 그리고 신호를 노이즈 없이 깨끗하게 보는 것도 중요 합니다. 스코프의 자체 노이즈도 고려해야할 부분 입니다.
김*환 : 프로브를 사용할 때 예전 사수가 프로브 그라운드 부분 하나만 물려 놓으면 그라운드 전체 연결된거라고 해서 그렇게 사용하고 있습니다. 2개의 프로브를 장비에 물릴때 하나만 그라운드 처리해서 해도 좋을까요??
Tektronix3 : 전체적으로 연결된 것은 맞지만 각각의 프로브에서 그라운드를 짧게 연결하셔야 그라운드 루프가 작아지면서 신호를 왜곡없이 정확하게 볼 수 있습니다.
황*근 : 다채널을 사용하다 보면 각각의 채널의 전압을 우측 축에서 한번에 안보이고 움직인 채널의 전압만 보이는 장비가 있는데요.. 혹시 텍트로닉스 장비도 그런게 있으면 제발 한번에 보일 수 있도록 고쳐주셨으면 합니다.. 너무 불편합니다.
Tektronix3 : 저희 텍트로닉스는 말씀하신 것처럼 신호 화면을 구성할 수동 있고, 신호별로 따로 구성 할 수도 있습니다. 따로 구성 하신다면 전체의 전압값을 따로 확인 하실 수 있습니다.
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