IoT 디바이스 설계 및 검증을 위한 전원 무결성 테스트 및 저전류 측정 솔루션
정*호 : 높은전류와 낮은전류를 각각 측정하는것과 높은전류와 낮은전류를 Auto로 측정하는 2가지 경우중 어느쪽이 정확도가 높은지 궁금합니다.
: 둘 다 원하는 정확도로 측정이 가능하고요, Auto로 하게되면 한꺼번에 측정할 수 있다는 장점이 있습니다.
100/400 Gbps 이더넷 설계-강력한 검증 및 디버그 솔루션
배*근 : sampling scope의 bandwiidth가 보통 더 넓다고 알고 있는데 보여주신 장비에서는 RT이 더 넓은 것 같은데요. 특별한 이유가 있나요?
: 기본적으로 RT Scope 와 Sampling Scope 의 Frequency Response 가 다릅니다. IEEE 에서 요구하는 Frequency Response 를 만족시키기 위해 약간 다른 Bandwith 를 제안하고 있습니다.
이*민 : PAM-4 시스템에 가능한 리얼타임 오실로스코프 모델들을 알고싶습니다.
: PAM-4 신호 속도에 따라 다르겠지만, 기본적으로 Infiniium Z-Series (DSAZ634A) Oscilloscope 를 제안해 드리고 있습니다.
이*민 : 일반적인 BERT SOLUTION과는 다르게 M8000 시리즈를 사용한 시스템 사용시 PAM-4는 단독인데 어떤 차별화된 장점이 있는지요?
: 현재 PAM-4 신호를 사용하는 Physical Layer 에 대한 BER 측정은 M8040A 가 전세계적으로 유일합니다.
: 오늘 설명해 주신 NRZ 신호에서 볼 수 없었던 새롭게 극복해야 할 과제들과 설계단계에서 나타날 수 있는 잠재적인 문제점들에 대해서 원인과 대책에 대하여 간략한 설명을 요청 드립니다.
: 가장 대표적인 것으로는 SNR 이 악화된다는 것입니다. 이러한 악화된 SNR 에서도 Receiver 의 BER 측정이 Target BER 에 만족되는지 확인해야 하는 대책이 필요하시겠죠. M8040A 64 GBaud 가 필요합니다.
반도체, IoT, 나노 소자 및 신소재 등 범용 전류/전압 특성 평가를 위한 솔루션
: Time Domain에서의 오실로스코프와 비교해서 가장 특징적인 기능이 무엇인가요?
: 오실로스코프와 비교는 어려운 부분이긴 합니다만 SMU의 경우 DC 신호에 대해 sourcing과 measure가 가능한 장비이입니다.
: 키사이트 B2900A는 LXI 호환 웹 브라우저 제어를 통해 보고서 및 프리젠테이션에 측정데이터 및 그래프를 삽입가능하여 매우 유용하겠네요.
: 네. 현재 많은 분들께서 말씀하시는 형태로 사용중에 있습니다.
김*호 : [질문] Triaxia type 이라함은 어떤 타입인가요? 간단히 설명 부탁드립니다.
: 일반적으로 많이 사용하는 BNC의 경우 중심에 signal, 바깥에 ground 가 되어 있는 케이스이고, Triaxial은 그 중간에 Guard라고 하는 signal line과 등전위를 가지는 단자가 하나 더 있으며, 1nA 이하의 전류 측정에서는 꼭 필요합니다.
고*상 : v포토 다이오드의 암전류는 fA 단위로 매우 낮은데요. fA를 측정할때의 측정 속도는 어느정도나 되는지요?
: 어려운 질문이네요. fA, aA 레벨의 전류 측정 시, 장비 자체의 속도는 SMU 제품군에서 매우 빠른 쪽에 속한다고 말씀 드릴 수는 있으나, 정확한 숫자를 가지고 말씀 드리기는 애매합니다. SMU 장비에서 가능하다 하더라고, 주위 환경 등에 의해서 noise 등등이 어떻게 영향을 미칠 수 있을지 모르며, 이를 위해 얼마나 속도 제어를 해야 할지는 실환경에서 확인해야 정확한 답을 드릴 수 잇을 듯 합니다.
: 혹시 배터리(리튬이온, 리튬폴리머 등) 전원의 품질(방전전압, 방전전류, 방전시간)을 측정할 수 있는 있을까요?
: SMU의 Roll view 또는 별도의 Data logging s/w를 이용하시면 가능할 듯 합니다.
남*식 : Labview 처럼 소프트웨어를 원하는대로 다양하게 활용할 수 있는 것인가요?
: 네. 당연히 가능합니다. 대부분의 S/W를 이용하실 수 있습니다.
김*호 : [질문] B2980A 의 경우, 저전류 측정의 오차값 허용율은 어느정도 인가요? 아무래도 조금의 허용구간은 반영이 되어야 될거 같은데요
: 말씀하신 저전류 측정의 경우, 측정하시고자 하는 영역대와, 이를 측정하기 위한 측정 장비의 셋업에 따라 달라질 수 있습니다. 당연히 속도가 늦어지면 정확도는 개선됩니다. 이에 대한 세부적인 Spec은 Data sheet를 참고해야 합니다. 원하시는 측정 전류 level 정도를 알려 주시면 답변 드리도록 하겟습니다.
최*웅 : I, V souce 의 rainge 가 어떻게 되는지요?
: 제품군마다 다르긴 합니다만, 일반적으로 많이 쓰시는 SMU의 경우 DC voltage 210V, current 10A(pulse) 정도 가능합니다. 고전압의 경우 B2985A의 경우 1000V 까지 Sourcing이 가능합니다.
새로운 LTE-A 기술과 단말 성능 측정 솔루션
이*윤 : LTE BAND7, 2.4G 대역 WIFI 간섭, LTE-U WIFI 5G 대역 간섭 예상되는 문제 관련내용입니다.
: LTE 대비 LTE-A 로 가면서 CA 가 지원되어, 이들 CC 의 harmonic 성분으로 인한 간섭 고려가 추가되어야 합니다. LTE-U 의 경우, WiFi 가 LBT (Listen Before Talk) 를 통해 다른 사용자의 유무를 파악한 후 사용하게 되나, LTE 는 monitoring 을 통한 점유 기법이 없었습니다. 이에, LTE-U 에 LBT 기법 적용도 함께 고려되고 있습니다.
프로빙 문제 해결을 위한 비법공개
안*규 : [질문] 디지털 오실로스코프의 고질적인 문제가 낮은 지터와 노이즈 플로어가 문제될듯 싶은데, 이를 BreakThrough 하기 위한, 경쟁사 대비 방안은?
: 안녕하세요. Real time Scope의 경우 말씀 하신 noise floor가 문제가 됩니다. Jitter는 noise floor로 인해 영향을 받는 경우가 크고, 대게 probe는 rising time spec과 B/W 및 본체 Probe특성 반영되는 DSP처리 system, calibration이 영향을 받습니다. 현재 말씀하신 문제중 성능에 dependent한 것을 제외 하면, 특정 test환경과 저희 probe의 특성및 connection의 불정합성으로 발생하는 white noise및 jitter는 저희 Keysight가 함께 제공하는 Probe calibration kit을 이용하여 먼저 cal을 진행 하고, Probing point의 불정합성으로 생기는 frequency loss의 경우는 저희 Scope option중 precision probe및 deembedding기능으로 frequncy flatness를 개선하면 됩니다. 참고 해주세요.
새로운 LTE-A 기술과 단말 성능 측정 솔루션
김*환 : LTE-A가 양산 되려면 최우선 과제가 무엇이 있고, 주파수는 몇기가 까지 커버가 가능 할까요??
: 현재로는 LTE-U 가 사용하는 5GHz ISM band 정도가 커버되면 되겠습니다.
프로빙 문제 해결을 위한 비법공개
윤*환 : 고속신호에서 신호측정시 프로브 문제인지 아닌지 어떻게 판단할까요?
: Probe 의 효과를 보상해서 loss 를 줄여주는 S/W option(precision probe) 을 사용하시면 도움이 되실듯 합니다.
김*호 : [질문] 오실로스코프 프로브 길이를 아무리 짧게 하더라도 측정시에는 어느정도 길이가 필요할 텐데, 길이에 따른 보정값을 지정해줄 수는 없을런지요?
: 오실로스코프에서 프로브의 앰프는 자동인식하여 보정해 주며, 헤드 같은 경우는 직접 선택하시어 각각에 대하여 보정을 해주게 됩니다.
J******e : 소신호 측정에서 스코프 노이즈와 DUT 노이즈를 구별하기 어려운데요,,, 측정된 신호에서 스코프 노이즈를 제거할 수 있는 방법이 있나요?
: 장비자체도 system입니다. 즉 장비 자체의 noise를 제거하기는 힘드며, 장비의 noise를 최대한 적게 하여 측정을 하셔야 합니다. 즉, High end 장비는 자체 noise가 적으며, Probe를 선택 시 신호 감쇄 후 증폭을 최대한 적게 하는 Attenuation이 적은 N7020A같은 probe를 사용 하시면, 장비 자체의 noise를 최소화 하여 측정 가능합니다.
: 장비자체도 system입니다. 즉 장비 자체의 noise를 제거하기는 힘드며, 장비의 noise를 최대한 적게 하여 측정을 하셔야 합니다. 즉, High end 장비는 자체 noise가 적으며, Probe를 선택 시 신호 감쇄 후 증폭을 최대한 적게 하는 Attenuation이 적은 N7020A같은 probe를 사용 하시면, 장비 자체의 noise를 최소화 하여 측정 가능합니다.
새로운 LTE-A 기술과 단말 성능 측정 솔루션
이*윤 : [질문]LWA 에서 CA가 최적으로 동작하기 위한 ACTIVE MIMO 구조, 노이즈 유입시 측정 솔루션 소개 부탁드립니다. 그리고 차량에 적용 가능한 LTE-U APPLICATION은 무엇이 있을지 궁금합니다.
: LTE-U 단말의 경우, UXM E7515A 장비를 사용할 수 있고, 자동차의 경우 EXM 이라고 하는 SG+SA 기능을 통해 검증하실 수 있겠습니다


