Connected Car를 위한 오토모티브 측정 솔루션
한*남 : [질문] Tesla 탑승 후기 동영상을 보면 주위 차량의 위치및 속도가 데쉬보드에 실시간 표시되며 심지어 auto-piolt으로 주행합니다. 이런 차량들과 기기들 간의 통신에서 오류 검출/보정은 어떤 방식으로 이루어지며 측정 계측기를 통하여 검출이 가능한가요?
: 네 주로 CAN,LIN등의 프로토콜을 이용해서 분석으로 하면 오실로스코프를 사용하요 검출 가능합니다.
디지털 인터페이스(MIPI C-PHY & PCI Express Gen4) 최신 동향 및 솔루션 소개
서*준 : 5ns 펄스폭의 2v 전압을 측정하기 위해 어느정도 속도로 샘플링해야 하는지요? 이것을 측정하기 위한 pcie 보드 타입 디지타이져보드가 있는지요?
: 키사이트 제품중 U5303A 를 사용하시면 되겠습니다. 제품정보는 아래의 URL 을 참고하시기 바랍니다. http://www.keysight.com/ko/pd-2292102-pn-U5303A/pcie-12-bit-high-speed-digitizer-with-on-board-signal-processing?nid=-33699.1059482&cc=KR&lc=kor
김*호 : [질문] PCIe Revision 관련 하위 버전에 대해 솔루션 입장에서 호환성도 비교적 쉽게 측정이 가능한가요? 아니면 별도의 측정기를 장만해야하는걸까요?
: PCIexpress, USB, SATA등은 항상 하위버전(기존 버전)의 spec을 모두 cover하도록 최신 spec을 만들고 test를 하고 있습니다. 다만, PCIexpress는 종류가 다양하여, portfolio에서 아예 다른 경우가 있습니다. 대부분 호환성이 쉽고, 측정의 경우 fixture만 준비가 되면, PCIexpress gen3의 경우 PCIexpress Gen2, Gen1 을 함께 test 가능합니다.
Connected Car를 위한 오토모티브 측정 솔루션
김*훈 : V2X 에 대한 보안 문제를 해결하기 위해 고려중인 방안은 있나요?
: 인텔에서 V2X 보안 솔루션을 제공하고 있습니다. 각 RF 칩셋 회사에서 보안도 함께 제공할 것입니다.
김*호 : [질문] WAVE 같은 경우, 국내에 일부 시험은 많이 진행은 했으나, 상용화에는 아직 인프라가 많이 부족해보입니다. 이에 측정 솔루션 보급에 대한 앞으로의 전망은 어떨지요
: 네 지금 수원 경부 고속도로에 스마트 하이웨이 프로젝트를 정부 주도로 하고 있습니다. 앞으로 자율주행차가 시작되는 2020년 경으로 대량 보급을 보고 있습니다.
김*수 : [질문] 차량은 항시 운전자가 있어야만 주행하는데, 그 운전자는 항시 스마트폰을 소지하고 있을텐데 굳이 자동차에도 connected가 필요한지, 그 이유는 무엇인지요?
: 자율 주행 자동차의 근간입니다. 상대방 차량의 속도와 방향을 알고 있으면 자동차 안의 ECU를 활용하여 자동적으로 브레이킹이 가능합니다.
디지털 인터페이스(MIPI C-PHY & PCI Express Gen4) 최신 동향 및 솔루션 소개
박*상 : HDMI단자를 쓰고 있는데요...8K/60HZ 전송이 되지 않습니다. 방법이 없을까요? 최신 동향이 궁금합니다.
: 안녕하세요 현재 개발중인 제품이 8K 60Hz를 지원할 예정이라는 이야기 라면, HDMI2.0 interface로 진행 하시면 8K UHD 지원이 가능합니다. 현재 사용중인 Chip set이 HDMI1.4까지만 지원되어 4K까지만 지원 되는 듯 합니다.
고속신호에서의 누화(crosstalk) 식별 및 제거 솔루션
이*진 : 누화라면 미세한 환경에 영향을 많이 받을 터인데, 측정 하는 순간의 프루빙 영향으로 인해서 생기는 변화로 인한 안정성은 어떻게 보장하는가요.,
: 환경적인 부분에 대한 정보를 제공해 드릴 수는 없지만, Probing System 에 대한 AC Calibration 기능을 제안해 드릴 수는 있습니다
김*환 : 측정시 Probe Cable 및 상태도 Crosstalk에 영향이 있을 것 같은데 보상 방법 및 측정 Recommend 사항이 있는가요?
: Probing System Calibration 을 통해 정상인지를 확인하실 수 있으며, Precision Probe 를 통해 AC Calibration 을 하실 수 있습니다. 즉, Probing System 에 의한 영향을 배제하실 수 있습니다.
김*석 : 실제보드에서 Crosstalk 의 측정시 프루빙의 한계가 있을듯합니다. 좀더 유저가 쉽게 접근할수 있는 솔루션이 있는지요
: Probing System 에는 Soldering 형태와 Broswer 형태가 재공됩니다. Soldering 형태는 직접 납땡을 하시는 방식이며, Browser 형태는 손쉽게 찍어보실 수 있는 형태입니다. 다양한 Point 를 찍어보시려면 Browser 형태를 제안해 드립니다.
신*욱 : 잘 몰라서 하는 질문입니다. 고속 시리얼 신호에 Probe를 대면 stub 때문에 오히려 신호에 영향을 줘서 정확한 측정이 어렵지 않나요? 이런 부분을 어떻게 해결 했는지 간단히 설명이 가능한가요?
: Probing System Calibration 을 통해 Probing System 이 정상이라고 판단하셨다면, 기본적으로 High Impedance 특성을 가지고 있는 Probing System 에 의한 영향은 무시할 정도의 수준으로 판단하셔도 됩니다.
신*욱 : 이미 개발이 완료된 보드에 대해 Crosstalk을 측정하고 디버깅하는 기술도 매우 중요하다고 생각됩니다. 하지만 문제를 찾고 다시 수정하기까지 비용이 많이 드는건 설계자의 몫이되는데.. 혹시 설계전 PCB 아트웍 단계에서 Crosstalk을 예측하는 기술을 keysight에서 지원(툴등)하는 부분은 없나요?
: Simulation 기능을 의미하시는 듯 합니다. 아직까지 Simulation Tool 에서는 제공되지 않고 있습니다. 단, PCB 가 제작되어 있는 상태에서 다양한 Aggressor Source 를 이용하여 검즈하는 것은 가능하겠지요.
전력 반도체 및 전력 소자 측정을 위한 솔루션
이*윤 : 글로 전달하다보니 오해가 있는거 같네요. 제가 말씀드리려고 한것은 IV curve 측정시 입력된 pulse 전력에 따라 온도가 변하게 되어 화면으로 표시되는 값이 다르게 될것으로 판단되는데. 이 값이 370,371과 비교했을때 얼마나 차이가 있는것인지 문의드린것입니다. 제가 의미전달에서 혼동을 드렸나봅니다.
: 아~ 이해했습니다. 제가 혹시나 하는 맘에 걱정이 앞섰네요. 말씀하신 부분이 전력 소자에서는 특히나 중요한 부분이 맞지요. 해당 제품의 특성에 대해서는 정확히 인지를 못하고 있어서 저희 제품 기준으로만 말씀을 드리자면, 말씀하신 열 문제로 인한 특성 변화를 확인하기 위해 Pulse width를 조절할 수 있습니다. 약 50us ~ 정도의 pulse width 전력을 이용할 수 있다보니 열에 의한 특성 변화를 확인이 가능하지 않을까 합니다. 사실 어느 정도 영향을 받는지는 pulse 인가 후 측정해서 비교해 보는 게 가장 좋지 않을까 합니다.
김*수 : 측정된 Data는 어떤 Format을 지원하며, PC에서 분석가능한 Software도 제공이 되는지 알고 싶습니다
: 측정된 data는 csv,text, png등 기본적인 firmat은다 지원되며, data sheet형식으로 data를 저장할 수 있습니다. PC에서 분석가능한 software로 EasyExpert 프로그램을 제공합니다.
이*윤 : 저희의 경우 오실로스코프를 사용하여 측정을 하고 있습니다. 이것과 비교했을때 정확도는 어느정도 인지 알 수 있을까요?
: 저전류의 경우 오실로스코프 보다 높은 해상도를 가지고 있습니다. 현재 보여지고 있는 오실로스코프 뷰는 실제 스코프 보다 샘플링 속도가 떨어집니다.
: FET측정시 SMU 하나로 전환해가면서 측정하면 어떤 문제가 있나요?
: FET를 측정 하려면 3 터미널인지 4터미널인지에 따라 SMU 갯수가 달라지게 됩니다. 3터미널 기준의 경우 2개의 SMU가 필요하게 되고 전환해 가면서 측정을 해도 문제가 발생하진 않습니다.
이*우 : 측정하는 프로브에 대한 정전용량의 CAP 값이 있을 텐데 실제 데이터와의 오차는 어떻게 되는지요?
: 일반적으로 probe끝단까지는 calibration 후 측정하기 때문에 프로브에 대한 오차는 제거된다고 생각하시면 됩니다.
: DUT 대상장치의 자체 발열 영향을 최소화하여 실제 동작 특성 파악이 가능한가요?
: B1506A에는 픽스쳐가 제공되고 발열을 최소화 하기 위해 펄스를 이용하여 측정하게 되며, 이 부분에 대해 뒤쪽 슬라이드에 나와 있습니다.
정*수 : 소자 단독으로만 측정 가능한가요? 보드에 장착된 상태에서도 가능한가요?
: 소자 단독입니다. 보드에 장착된 상태로는 측정이 쉽지 않습니다.
백*한 : 파워반도체 모듈의 특성 측정에도 사용이 가능한가요?
: 파워 반도체라고 말씀 하신다면, 혹, IGBT ,power mosfet 과 같은 소자를 말씀 하시는 건가요? 그렇다면 가능합니다.