SiC 전력 반도체, 소자부터 모듈까지 다이나믹 고전력 신뢰성 테스트 솔루션

2025-06-12 10:30~12:00

NI / 성웅용 이사

웨비나정보 웨비나Q&A

최*태2025-06-12 오전 11:05:45
SiC 디바이스에서 나타나는 Early Failure Mode나 열화 신호를 이 시스템이 실시간으로 탐지하는 방식은 무엇인가요? FFT 분석, 펄스 응답, 파형 왜형 등 정량적 기준이 존재하는지도 궁금합니다.
NI12025.06.12
Dynamic H3TRB에서는 실시간을 누설전류를 모니터링 합니다.
최*은2025-06-12 오전 11:04:58
NI의 Dynamic HTFB 테스트 방식이 기존 JEDEC/IEC 기반 HTGB/HTRB와는 어떻게 다른 구조로 설계되었나요? 실제 어떤 매개변수를 더 정밀하게 제어할 수 있는지요?
NI32025.06.12
안녕하세요. 슬라이드 자료 참고부탁드립니다. ^^
김*수2025-06-12 오전 11:02:03
소개해 주시는 테스트 장비들은 SiC 반도체 후공정에 필요한 장비인지요?
NI12025.06.12
완제품의 신뢰성 테스트 장비입니다. 후공정에 Burn in이 포함되신다면 사용하실 수 있으십니다.
이*규2025-06-12 오전 11:00:05
NI의 다이나믹 테스트 시스템이 자동차 제조사들로부터 높은 시장 점유율을 확보한 주요 경쟁 우위는 무엇이며, 특히 전기차 시장의 SiC/GaN 소자 신뢰성 검증에 있어 NI 솔루션의 강점은 무엇이라고 생각하시나요?
ni42025.06.12
안녕하십니까, 주요 경쟁 우위라면 다양한 테스트 항목을 커버 할 수 있는 장비 리스트가 있다는 것과 AQG-324에 적극적으로 참여하고 있어 타사대비 기술적으로 우위가 있다고 말씀 드릴 수 있습니다.
NI32025.06.12
NI는 AQG-324의 폭넓은 테스트 조건을 충족하며, 변화하는 전기차 산업 요구에 빠르게 대응할 수 있는 유연한 테스트 플랫폼을 제공합니다. 전력 사이클링, HTRB, 열충격 등 고신뢰성 시험을 정밀하게 자동화할 수 있고, 모듈형 아키텍처로 확장성과 재사용성이 뛰어납니다. 이미 유럽 주요 완성차 및 Tier 1 업체에서 적용 사례가 있어 산업 현장에서 신뢰성과 검증력을 입증한 바 있습니다.
NI12025.06.12
주요 경쟁 우위는 Dynamic 솔루션에 대한 기술력 입니다. 특히 SiC/GaN Dynamic 테스트에는 소자 별로 optimization 을 해서 테스트 해야 되는데 이 부분의 기술력과 다양한 DUT Type에 대한 Adapter를 직접 제작하고 있습니다.
이*규2025-06-12 오전 10:59:47
Dynamic HTFB 시스템이 기존 정적 테스트 대비 고온 환경에서 SiC 소자의 어떤 종류의 고장 메커니즘을 더 효과적으로 식별하고 분석할 수 있는지 구체적인 사례와 함께 설명해주실 수 있을까요?
ni42025.06.12
안녕하십니까, 자세한 설명은 따로 오프라인 미팅을 통해 전달 해드릴 수 있을 것 같습니다. 웨비나 후에 따로 연락 드리겠습니다.
생조**2025-06-12 오전 10:57:44
“SiC 전력 반도체 모듈의 고전력 구동 시 발생할 수 있는 열화 메커니즘에는 어떤 것들이 있으며, 이를 신뢰성 테스트에서 어떻게 반영하고 계신가요?”
e4ds2025.06.12
현장 답변 완료했습니다.
최*빈2025-06-12 오전 10:54:29
현재 사용 중인 장비와 연동이 가능한지, 또는 기존 인프라와의 통합 유연성은 어느 정도인가요? 특히 SiC 전력 모듈 평가에 필요한 커스터마이징이 가능한지 궁금합니다.
NI12025.06.12
사용중 이신 장비 또는 챔버와는 연동이 불가능합니다. 필요한 커스터마이징은 모듈은 세부 스펙과 필요한 사양에 따라 가능합니다.
김*숙2025-06-12 오전 10:53:20
NI의 다이나믹 테스트 시스템이 고온·고전류 조건에서 장시간 반복되는 실제 사용 환경을 얼마나 충실히 모사하는지요? 전력 사이클링이나 열화 시뮬레이션이 가능한지요.
NI32025.06.12
안녕하세요. 실제 사용 환경뿐만 아니라 더 러기드한(Rugged) 조건으로 TEST가 가능합니다. 별도의 전력사이클링 장비로 가능합니다. 수집한 데이터를 기반으로 LabVIEW 또는 TestStand를 통해 열화 패턴을 추적하고 판단 조건을 프로그래밍할 수 있습니다.
박*렬2025-06-12 오전 10:52:11
일반 반도체에 대한 신뢰성보다는 GaN에 특화된 신뢰성 항목이 어떤 것이 있는지 왜 필요한것인지에 대한 내용 설명이 더 중요할 거 같습니다.. 너무 일반적인 내용은 크게 도움이 되지 않습니다. 대부분 이 업계에 있는 사람들이 교육을 수강할텐데요..
NI22025.06.12
좋은 피드백 감사합니다. 오늘 웨비나 이후 설명이 추가로 필요한 부분은 저희 측으로 알려주시면 확인 후 말씀드리겠습니다.
정*윤2025-06-12 오전 10:40:59
방금 다운로드 받았는데 강의 자료와 상이한 것 같습니다.
NI22025.06.12
다운로드 자료는 오늘 소개드릴 내용 중 장비에 대한 일부 자료를 요약한 내용입니다. 강의 자료 필요 시 설문조사에 남겨주시면 별도로 보내드리도록 하겠습니다.