I3C 및 100BASE-T1 분석기, 왜 필요한가
대용량 센서 데이터의 안전하고 신속한 전송을 위해 I2C, SPI 통신 방식의 한계를 극복한 I3C 방식이 제정됐다. 더불어 늘어나는 차량 내 통신 수요에 대응하기 위해 100BASE-T1 이더넷 PHY 규격이 고안됐다. 생소한 두 통신 방식을 기반으로 하는 디바이스의…
2021.04.01 by 이수민 기자
키사이트, 원격 교육 지원하는 'SBE' 통합 계측기 출시
키사이트가 삼중 출력 전원 공급기, 임의 함수 발생기, 디지털 멀티 미터, 오실로스코프로 구성된 '스마트 벤치 에센셜(SBE)'을 출시했다. 새로운 장비는 같은 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)와 연결 방식을 채택하여, 통합된 데이터 관리 및 분석 기능을 제공한다.
2021.03.17 by 명세환 기자
라피스, 광대역 네트워크 구축용 멀티밴드 LSI 공개
로옴 그룹 라피스 테크놀로지가 스마트 계측기 및 가로등 같은 인프라를 비롯하여, 스마트 공장 및 물류 등이 요구하는 광대역 네트워크 구축에 최적인 ML7436N 멀티밴드 무선 LSI를 개발했다. 신제품은 고속 동작 가능한 32bit Arm Cortex-M3 코어와 10…
2021.01.19 by 강정규 기자
키사이트, 7가지 계측기 통합 EXR 오실로스코프 공개
키사이트가 인피니엄 EXR-시리즈 혼합 신호 오실로스코프를 출시했다. 신제품은 4/8개의 아날로그 채널과 최대 2.5GHz 대역폭을 제공하며, 첨단 ASIC 하드웨어를 바탕으로 7개 계측기를 하나로 결합했다. 엔지니어링 생산성과 사용 편의성을 높인 EXR-시리즈는 디버…
2020.12.23 by 강정규 기자
KLA, 웨이퍼 결함 고속 측정하는 시스템 2종 공개
KLA가 최첨단 메모리 및 로직 집적 회로 제조 문제 해결을 위해 설계한 'PWG5 웨이퍼 기하 구조 계측 시스템'과 '서프스캔 SP7XP 웨이퍼 결함 검사 시스템'을 발표했다. PWG5는 고해상도로 웨이퍼 기하 구조의 미세한 변형을 측정해 패턴 웨이퍼 변형을 식별하고…
2020.12.15 by 이수민 기자
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텍트로닉스, 신규 광학 트랜시버 테스트 플랫폼 공개
텍트로닉스가 분산형 모듈식 계측기로 '8 시리즈 샘플링 오실로스코프' 플랫폼을 출시했다. 8 시리즈 샘플링 오실로스코프는 여러 개의 동시 입력에서 PAM4 광학 신호에 대해 메인 프레임당 최대 4개의 채널과 가장 높은 측정 정확도를 제공하는 병렬 획득 기능을 탑재했다.
2020.12.09 by 이수민 기자
키사이트, 컴퓨팅 제한 해소한 신규 계측 SW 5종 발표
전자기기를 설계하고 테스트해야 하는 엔지니어들은 몇 주에서 몇 개월이 걸리는 데이터 크런치의 복잡성을 극복하고 개발 제품의 시장 출시일을 앞당겨야 한다는 과제에 직면해 있다. 이에 키사이트가 자사의 기존 패스웨이브 소프트웨어 제품군을 5종의 소프트웨어 솔루션으로 확장했…
2020.11.30 by 이수민 기자
키사이트, 실제 환경 기반의 "5G VDT 툴세트" 공개
키사이트가 5G 디바이스 및 칩셋 제조사, 이동통신 사업자가 현장과 유사하고 자동화된 실험실 환경에서 최종 사용자 경험을 검증할 수 있도록 도와주는 5G 가상 드라이브 테스트 툴세트를 출시했다. 툴세트는 회사의 채널 및 네트워크 에뮬레이션 기능을 수집, 로깅, 스크립팅…
2020.11.25 by 이수민 기자
테스트 장비로 인한 손실, 어떻게 메꾸고 예방하나?
전자제품을 설계, 개발하는 거의 모든 기업이 테스트 장비의 잘못된 구성, 유지보수 또는 교육 문제로 인한 예측 가능한 지연과 그에 따른 비용 부담을 경험한 것으로 나타났다. 이에 키사이트는 ‘테스트 및 측정 장비 교육, 유지보수, 기술 지원 및 교정의 비즈니스 영향’에…
2020.10.22 by 이수민 기자
통신·계측 시스템에 적합한 광대역 합성기 선택하기
높은 대역폭과 빠른 데이터 속도에 대한 요구와 함께 시스템 주파수 및 변조 속도에 대한 요구 역시 계속해서 높아지고 있다. 저전력 특성도 중요해졌다. 이제 개발자는 전기적 성능이나 기능을 희생하지 않으면서 이러한 요구들을 충족해야 한다. ADI의 마이크로파 광대역 합성…
2020.04.17 by 이수민 기자
KLA, IC 미세공정 계측 시스템 2종 출시
KLA가 아처 750 오버레이 계측 시스템과 스펙트라셰이프 11k CD 및 차원 형상 계측 시스템’을 출시했다. 아처 750 오버레이 계측 시스템은 공정 변동이 존재하는 상황에서 오버레이 오류를 측정한다. 스펙트라셰이프 11k CD 및 차원 형상 계측 시스템은 웨이퍼 …
2020.02.27 by 이수민 기자