2013-01-15 10:30~12:00
Keysight / 금종환 부장
공*현2013-01-15 오전 11:18:58
워밍업은 어느정도의 시간이 좋은가요?Agilent12013.01.15
30분에서 1시간입니다. 장비가 위치한 장소의 온도에 따라 더 필요할 수도 있습니다. 중요한 것은 내가 시료를 측정하는 시점과 calibration하는 시점의 온도차가 발생하지 않는 것입니다.무명2013-01-15 오전 11:17:53
그럼 PNA는 source power도 업그레이드 가능한가요?>Agilent12013.01.15
최대 소스 파워 레벨은 장비 모델별로 정해져 있습니다. 최저 레벨은 소스 단에 attenuator option을 추가하여 변경할 수 있습니다. 소스 레벨을 더 높여야 하는 경우 외부에 booster amp를 사용하는 application이 있기는 합니다.송*수2013-01-15 오전 11:16:58
장비 캘리브레이션은 충분한 워밍업 시간 후에 하는 것이 좋은가요?Agilent12013.01.15
예, 맞습니다. 장비 내부의 oscillator 등이 안정화된 후 calibration하시고 측정하셔야 drift error가 발생하지 않습니다.박*훈2013-01-15 오전 11:16:25
세미나 내용중 THz 측정 Calkit이 나와서 질문드렸습니다.Agilent02013.01.15
타이핑이 느려서 죄송합니다. 답변 드렸는데, 확인해 보세요.손*철2013-01-15 오전 11:16:04
WR430같은 경우는 기본 1/10 그룹파장 정도의 가공오차를 마진으로 사용할 수 있는데 WR15에 경우 세계최고의 가공기술을 설명하셨는데 어는 정도의 가공 공차를 가지나요? 그리고 표면 오염에 따른 전도율의 상관함수는 어떻게 되는지요? 강의 잘들었습니다~Agilent02013.01.15
Waveguide 가공을 Agilent에서 직접 하는지는 잘 모르겟네요. 저희 본사에 문의해 봐야 할 것 같습니다. 죄송합니다.김*호2013-01-15 오전 11:15:55
Quasi-optical W 대역시스템을 이용한 물질상수 측정에 관한 좀 더 자세한 자료를 받아볼 수 있습니까?Agilent12013.01.15
죄송하지만 저희가 보유하고 있는 자료는 없습니다. 영국의 Thomas Keating 사쪽으로 확인부탁드립니다. 참고로 표준과학연구원에 해당 시스템이 들어가 있습니다.김*웅2013-01-15 오전 11:12:46
MW대역에서 Pulsed-RF signal를 Source로 사용하는 DUT가 있습니다. 그 DUT 내부에서 주파수 Conversion 한 경우는 어떻게 측정하나요? DUT 다음단에 외부 Mixer를 사용하고, 외부 Mixer의 Source를 Network(PNA) 내부소스를 이용하면 가능한가요?Agilent12013.01.15
측정하시려는 DUT가 frequency converter라는 의미이신가요? PNA 또는 PNA-X에서 cal, ref mixer 등을 이용하여 pulsed-RF 측정이 가능합니다.무명2013-01-15 오전 11:11:53
THz 네트웤의 경우에는 네트웍의 Sig. source는 IF의 역할을 한다고 생각하면 되는 것인가요??Agilent02013.01.15
예. 비슷합니다.sang***2013-01-15 오전 11:11:35
아날라이저의 다이내믹 레인지의 의미가 무엇인가요?Agilent12013.01.15
예를 들어 band pass filter를 측정한다면, pass band의 loss는 매우 작고, rejection 되는 부분은 로스가 매우 클 것입니다. 이때 얼마나 큰 로스까지 (매우 큰 rejection 특성) 측정할 수 있느냐로 이해하실 수 있습니다. 혹시 이해 안되시면 다시 질문주세요.박*훈2013-01-15 오전 11:11:15
Cal kit이 넓은 주파수 영역을 포함하고 있어 좋네요. 주파수 대역이 특정 주파수 대역으로 좁히는 경우는 그에 맞는 Cal kit이 보다 좋을지요? 아니면 Broad band cal kit으로 충분할지요.Agilent12013.01.15
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