SiC 전력 반도체, 소자부터 모듈까지 다이나믹 고전력 신뢰성 테스트 솔루션

2025-06-12 10:30~12:00

NI / 성웅용 이사

웨비나정보 웨비나Q&A

최*태2025-06-12 오전 11:13:04
고객 요구 사양에 맞춘 테스트 report 자동화 기능도 지원되나요?
NI12025.06.12
네 Report 자동화 가능이 있습니다. 레포트 재가공도 가능합니다.
최*빈2025-06-12 오전 11:12:35
PWM 신호나 Gate Drive 특성까지 모사할 수 있는 기능이 포함되어 있는지요? 또 커스터마이징한 테스트 조건을 저장하고 재사용할 수 있는 워크플로우가 제공되나요?
NI12025.06.12
네 Dynamic test 를 위해서는 PWM 신호가 출력 됩니다. 네 커스터마이징한 테스트 조건을 저장하고 재 사용 가능합니다.
이*근2025-06-12 오전 11:10:57
적용된 사례와 기대효과가 있을까요?
NI22025.06.12
네 글로벌 OEM 및 Tier1 사례들을 테스트별로 보유하고 있습니다.
김*숙2025-06-12 오전 11:10:31
SiC뿐 아니라 GaN 기반 소자에 대해서도 동일한 테스트 방식 적용이 가능한가요?
NI12025.06.12
네 맞습니다. 동일한 방식이 적용 됩니다.
박*차2025-06-12 오전 11:10:03
장비 운영 시 냉각, 절연, 고전압 안전 등 인프라 측면에서 사전 준비해야 할 사항이 무엇인지 고전력 장비 특성상 설치 환경 요건이 궁금합니다.
NI12025.06.12
온도가 20도 ~ 30도 유지되는 환경이 베스트 입니다.5도 ~ 40도 3상 / 400 V 가 필요합니다
최*빈2025-06-12 오전 11:08:12
실제 전기차 인버터 모듈 수준에서의 다이나믹 테스트는 어느 정도까지 구성 가능한가요? SiC 칩 단위가 아닌 패키지나 모듈 테스트도 가능한지요?
NI32025.06.12
네 가능합니다. ^^
김*수2025-06-12 오전 11:07:47
Si 전력 반도체 대비 SiC 전력 반도체 테스트 솔류션이 다른점은 무엇인지요? GaN 반도체는 또 다른지요?
ni42025.06.12
안녕하세요. 지금 보고 계신 그래프로 다이나믹 테스트의 중요성을 확인해 보실 수 있습니다. GaN 반도체 부분은 AQG-324에서 논의 중인 사항으로 SiC에서 테스트 하는 조건과는 약간 드릴 것입니다.
이*규2025-06-12 오전 11:07:28
AQG-324 및 JEDEC JC70과 같은 국제 표준 기반의 다이나믹 테스트가 SiC/GaN 소자의 실제 수명 예측 및 동작 보장에 어떤 영향을 미치는지, 특히 필드에서의 장기 신뢰성 확보에 있어 해당 표준 준수가 얼마나 중요할까요?
NI12025.06.12
AQG324의 Dynamic Test 는 SiC/GaN 소자의 실제 수명과 동작 안정성을 사전 예측하는 신뢰할 수 있 수 있는 방법 입니다. 필드에서 나올 수 있는 문제를 사전에 예측할 수 있기에 신뢰성 확보에 중요한 요소 입니다.
김*숙2025-06-12 오전 11:07:15
글로벌 자동차 OEM들이 이 시스템을 도입한 배경에는 어떤 요구 조건이나 트리거가 있었는지요? 전장화·고전압화 대응 Tj max 보장 또는 Functional Safety 인증 대비 등이 포함되는지요?
e4ds2025.06.12
현장 답변 완료했습니다.
박*차2025-06-12 오전 11:06:05
AQG-324 기준과 NI 테스트 시스템은 어느 정도까지 정합성이 확보되어 있나요? 사내 인증 단계에서 AQG 대응이 가능할 만큼 표준화가 되어 있는지
NI32025.06.12
NI 테스트 시스템은 AQG-324의 주요 신뢰성 시험 항목(Power Cycling, HTRB 등)에 적합성이 높고, 사내 인증 단계에서도 활용 가능한 수준으로 표준화되어 있습니다. LabVIEW/TestStand 기반의 자동화 환경으로 시험 시퀀스를 유연하게 구성할 수 있으며, 데이터 추적성과 반복성도 확보 가능합니다.