TI 3.9
TMT4 PCIE GEN3,4 TX, RX 성능 검증을 위한 최적의 테스트 솔루션

D-15 2023-02-23 10:30~12:00

Tektronix / 박영준 이사, 한국텍트로닉스 TKPS AE 매니저

 
· TX : Quick Eye diagram 측정 솔루션 -All lane , All preset test time : 약50 분
· RX : Link의 RX 개략적인 성능 검증 가능 ( Coefficient 변화량에 따른 DUT 반응 측정 )

PCIE 인터페이스는 고속시리얼 인터페이스의 최강자중 하나이나, 검증 및 측정 엔지니어가 테스트하기에는 매우 까다롭습니다.

TX, RX 측정 시에는 고난도의 측정 기술과 이에 따른 오실로스코프와 BERT스코프라는 고사양·고비용의 장비가 필요합니다. 또한, TX, RX 측정에서 장비의 Calibration 및 측정 setup과 많은 아이다이어그램 측정에 많은 시간과 노력을 요합니다.

TMT4는 오실로스코프와 BERT스코프의 위와 같은 어려움을 해소하고자 출시된 장비입니다.

오실로코프 및 BERT스코프와 같은 컴플라이언스 테스트 시스템을 보완해 기존 오실로스코프 및 BERT장비를 통한 심층 검사에 앞서 설계 프로세스 초기에 문제를 획기적으로 빠르고 저비용으로 조기 발견할 수 있게 설계하였습니다.

제품 미리보기

TMT4의 주요 기능 
· 오실로스코프의 TX 테스트와 BERT스코프의 RX의 복잡한 테스트를 보완하여 측정가능
· Eye diagram 측정 시 GEN3,4의 각각 Preset 10개, Lane 16개를 간단한 셋업으로 동시 측정가능
· Customer scan mode: x1,x4,x8,x16 등 원하는 lane , 원하는 preset을 모두 개별 측정 가능
· Quick scan mode: DUT의 최적의 link setup의 정보를 Eye diagram 과 각각의 EQ 값을 표현
· 획기적인 시간 단축: 상기 멀티 레인의 모든 Eye 측정 시(x16 lane, 10 preset) 약 50분에 측정 가능하게 하여 획기적으로 측정 시간 단축됨
 
Tektronix 박영준 이사, 한국텍트로닉스 TKPS AE 매니저
웨비나 댓글
3 Comments
강*성 (2023-01-30 오전 8:02:40)
유익한 내용 기대합니다
변*환 (2023-01-11 오전 11:18:58)
기대합니다. 감사합니다.
최*휴 (2023-01-09 오전 11:35:38)
기대합니다. 감사합니다.
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