SiC 전력 반도체, 소자부터 모듈까지 다이나믹 고전력 신뢰성 테스트 솔루션

2025-06-12 10:30~12:00

NI / 성웅용 이사

  • 최*태2025-06-12 오전 11:34:19

    다이나믹 테스트 중 발생하는 전압 스파이크나 ringing 현상도 측정 및 분석이 가능한가요?
  • ni42025.06.12

    안녕하세요. 테스트중에는 빠른 속도로 측정가능한 SCOPE를 이용하실 수는 없습니다. 자세한 설명은 설문에 연락처 남겨 주시면 말씀 드리겠습니다.
  • 최*은2025-06-12 오전 11:31:56

    고온 환경에서 장시간 운전 시 장비의 내구성이나 유지보수 주기는 어느 정도인가요?
  • ni42025.06.12

    말씀해주신 것처럼, 고온 고습 환경에 사용되는 내부 부품의 경우는 유지 보수가 필요합니다. 자세한 설명은 오프라인 미팅을 통해 말씀 드리겠습니다. 설문조사에 연락처를 남겨 주시면 따로 연락드리겠습니다.
  • 최*은2025-06-12 오전 11:31:35

    장비 도입 후 테스트 시나리오를 자체적으로 구성하거나 커스터마이징할 수 있나요? GUI나 소프트웨어 환경이 엔지니어 친화적인지도 궁금합니다.
  • NI32025.06.12

    아뇨 커스터마이징은 불가능하지만, 엔지니어링 모드, 운영자 모드 등이 존재하여 친화적으로 운용되고 있습니다.
  • 박*차2025-06-12 오전 11:31:00

    결함 검출을 위한 Threshold 설정 기능도 제공되나요?
  • ni42025.06.12

    안녕하세요. 모든 장비들은 스트레스와 모니터링에 중점되어 운영됩니다. Threshold는 따로 설정 하는 기능은 없고 그래프를 보시면서 확인 가능하십니다.
  • 최*빈2025-06-12 오전 11:30:19

    하나의 시스템으로 다수 채널 테스트가 가능한지, 병렬 측정 옵션도 궁금합니다.
  • ni42025.06.12

    어떤 테스트 장비를 사용하시는냐에 따라 다르겠지만 대부분 장비가 병렬테스트를 지원하고 있습니다. 자세한 설명은 오프라인 미팅을 통해 말씀 드리도록 하겠습니다. 설문지에 연락처를 남겨 주시면 감사하겠습니다.
  • 조*영2025-06-12 오전 11:28:06

    소자/모듈별 HTGB, HTRB, H3TRB, Power Cycling 등을 동시에 수행할 수 있는 통합 테스트 플랫폼은 어떤 것이 있는지요?
  • e4ds2025.06.12

    현장 답변 완료했습니다.
  • 주*원2025-06-12 오전 11:26:44

    현재 업계 동향 및 앞으로의 발전 방향에 대해서 문의드립니다
  • NI12025.06.12

    최근에 AQG324 의 변경된 규격이 나오고 향후 Dynamic HTFB에 대한 규격도 발표 될 예정입니다. 안전을 위해서 테스트 방법, 장비가 지속적으로 발전할 예정입니다.
  • 최*태2025-06-12 오전 11:16:42

    테스트 중 이상 동작 시 경고 또는 자동 종료 기능이 포함되어 있나요?
  • NI12025.06.12

    네 이상 동작시 알람을 띄우고 자동 종료 기능도 포함 되어 있습니다.
  • 김*숙2025-06-12 오전 11:15:50

    초기 세팅 이후 운영자가 테스트 조건을 직접 조정할 수 있을 만큼 사용자 친화적인 UI인가요?
  • NI12025.06.12

    테스트 조건은 쉽게 조정할 수 있고, 오랜 경험으로 친화적인 UI 를 가지고 있습니다.
  • 이*엽2025-06-12 오전 11:14:03

    HTFB Body diode system에서 고온 capability 도 가능한가요? 가능하다면 heat plat 방식인지요? Current Max 몇 A까지 capabilty가 가능한지요?
  • NI32025.06.12

    웨비나 종료 후 따로 HTFB 자료 전달드리겠습니다.
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